“Smear”效应

发布时间：2016-12-02

“Smear”效应
Smear（垂直拖光）是视场中点光源或亮区域亮度很高时，CCD传感器像元光电二极管产生的光电子数太多，溢出的光电子进入相邻的本来被屏蔽不感光的垂直电荷传递寄存器中，或入射光经过像元光电二极管区域的反射或折射进入被屏蔽不感光的垂直电荷传递寄存器中形成光电子，造成该列上的电荷传递寄存器中有寄光强分布，导致如下图所示的Smear（垂直拖光）效应，图像质量严重劣化。
因为CCD图像传感器存在让图像质量严重劣化的“Blooming”和“Smear”效应，以及CCD的动态范围比较小，一般60dB左右，CCD工业相机很难在焊接等离子体的强光干扰下获取焊接熔池中心及边缘部分的图像细节信息，CCD不是特别适合焊接实时检测图像获取的工业相机。